Kask, E., Grossberg, M., Josepson, R., Salu, P., Timmo, K., Krustok, J.

kompaktne vaade prindi

Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopy

autor

Kask, Erkki

Grossberg, Maarja

Josepson, Raavo

Salu, Pille

Timmo, Kristi

Krustok, Jüri

vastutusandmed

E. Kask, M. Grossberg, R. Josepson, P. Salu, K. Timmo, J. Krustok

allikas

Materials science in semiconductor processing

kirjastus/väljaandja

Elsevier

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 16, 3

ilmumisaasta

2013

leheküljed

p. 992-996 : ill

leitav

https://doi.org/10.1016/j.mssp.2013.02.009

märksõna

vaseühendid

fotoluminestsents

fluorestsentsspektroskoopia

võtmesõna

Cu2ZnSnSe4

Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4

admittance spectroscopy

photoluminescence spectroscopy

defects

ISSN

1369-8001

märkused

Bibliogr.: 22 ref

teaduspublikatsioon

klassifikaator

1.1

Scopus

Journal metrics at Scopus

Article at Scopus

WOS

Journal metrics at WOS

Article at WOS

kategooria (üld)

Tehnika

Füüsika ja astronoomia

Materjaliteadus

kategooria (alam)

Tehnika. Masinaehitus

Füüsika ja astronoomia. Kondenseeritud aine füüsika

Tehnika. Materjalide mehaanika

Materjaliteadus. Üldine materjaliteadus

kvartiil

TTÜ struktuuriüksus

materjaliteaduse instituut

füüsikainstituut

keel

inglise

Kask, E., Grossberg, M., Josepson, R., Salu, P., Timmo, K., Krustok, J. Defect studies in Cu2ZnSnSe4 and Cu2ZnSn(Se0.75S0.25)4 by admittance and photoluminescence spectroscopy // Materials science in semiconductor processing (2013) Vol. 16, 3, p. 992-996 : ill. https://doi.org/10.1016/j.mssp.2013.02.009