kompaktne vaade prindi

SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation

autor
Udal, Andres
Velmre, Enn
vastutusandmed
A.Udal and E.Velmre
allikas
Microelectronics reliability
kirjastus/väljaandja
Elsevier
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 37, 10/11
ilmumisaasta
1997
leheküljed
p. 1671-1674
leitav
https://doi.org/10.1016/S0026-2714(97)00136-4
märksõna
dioodid
simulatsioon
ISSN
0026-2714
Open Access
Open Access
TTÜ struktuuriüksus
elektroonikainstituut
keel
inglise
Udal, A., Velmre, E. SiC-diodes forward surge current failure mechanisms : experiment and simulation // Microelectronics reliability (1997) Vol. 37, 10/11, p. 1671-1674. https://doi.org/10.1016/S0026-2714(97)00136-4