Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in silicon using photoelectric methods
vastutusandmed
Aleksander Graf, Aleksei Gavrilov, Pavel Suurvarik
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 6, 4
ilmumisaasta
leheküljed
p. 26-31 : ill
võtmesõna
methods of measuring
nonequilibrium charge carriers
lifetime of carriers
ISSN
2305-8269
märkused
Bibliogr.: 2 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Graf, A., Gavrilov, A., Suurvarik, P. Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in silicon using photoelectric methods // International journal of engineering and applied sciences (EAAS) (2015) Vol. 6, 4, p. 26-31 : ill.