Tverjanovich, A., Benmore, C. J., Khomenko, M., Sokolov, A., Fontanari, D., Bereznev, S., Bokova, M., Kassem, M., Bychkov, E.

prindi

Decoding the atomic structure of Ga2Te5 pulsed laser deposition films for memory applications using diffraction and first-principles simulations

autor

Tverjanovich, Andrey

Benmore, Chris J.

Khomenko, Maxim

Sokolov, Anton

Fontanari, Daniele

Bereznev, Sergei

Bokova, Maria

Kassem, Mohammad

Bychkov, Eugene

vastutusandmed

by Andrey Tverjanovich, Chris J. Benmore, Maxim Khomenko, Anton Sokolov, Daniele Fontanari, Sergei Bereznev, Maria Bokova, Mohammad Kassem and Eugene Bychkov

allikas

Nanomaterials

ajakirja erinumber

Special Issue "Synchrotron Radiation in Nanomaterials Research: A Themed Issue in Honor of Dr. Claudio Ferrero"

kirjastus/väljaandja

MDPI

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 13, 14

ilmumisaasta

2023

leheküljed

art. 2137

leitav

https://doi.org/10.3390/nano13142137

märksõna

materjalid

energiatõhusus

temperatuur

galliumiühendid

võtmesõna

phase-change materials

synchrotron diffraction

first-principles molecular dynamics

ISSN

2079-4991

Open Access

teaduspublikatsioon

klassifikaator

1.1

TTÜ struktuuriüksus

materjali- ja keskkonnatehnoloogia instituut

keel

inglise

Tverjanovich, A., Benmore, C. J., Khomenko, M., Sokolov, A., Fontanari, D., Bereznev, S., Bokova, M., Kassem, M., Bychkov, E. Decoding the atomic structure of Ga2Te5 pulsed laser deposition films for memory applications using diffraction and first-principles simulations // Nanomaterials (2023) vol. 13, 14, art. 2137. https://doi.org/10.3390/nano13142137