Michel, B., Schubert, A., Reichl, H.

täiskirje prindi

Reliability in microsystems

autor

Michel, Bernd

Schubert, A.

Reichl, H.

vastutusandmed

B.Michel, A.Schubert and H.Reichl

allikas

BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings

ilmumiskoht

[Tallinn]

ilmumisaasta

1996

leheküljed

p. 37-40: ill

ISBN

9985-59-026-0

märkused

Bibl. 9 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

mikrotehnoloogia

süsteemid

töökindlus

Michel, B., Schubert, A., Reichl, H. Reliability in microsystems // BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings. [Tallinn], 1996. p. 37-40: ill.