Otsing - TalTech teadusportaal

MEDIAN Workshop on Circuit Reliability : Modeling and Monitoring, Rome, Italy, February 25, 2013 (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Nanoelectronics aging mitigation using SSBDD based techniques and dedicated sensorsUbar, Raimund-Johannes; Vargas, Fabian; Jenihhin, Maksim; Raik, JaanMEDIAN Workshop on Circuit Reliability : Modeling and Monitoring, Rome, Italy, February 25, 20132013 / [1] p

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1