Otsing - TalTech teadusportaal

Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in silicon using photoelectric methods (pealkiri)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Measurement of the lifetime of nonequilibrium charge carriers in silicon using photoelectric methodsGraf, Aleksandr; Gavrilov, Aleksei; Suurvarik, PavelInternational journal of engineering and applied sciences (EAAS)2015 / p. 26-31 : ill http://eaas-journal.org/survey/userfiles/files/v6i303%20Physics.pdf

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1