Otsing - TalTech teadusportaal

2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), April 22nd – 24th 2020 Novi Sad, Serbia : Proceedings (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

A security verification template to assess cache architecture vulnerabilitiesGhasempouri, Tara; Raik, Jaan; Paul, Kolin; Reinbrecht, Cezar; Hamdioui, Said; Taouil, M.2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), April 22nd – 24th 2020 Novi Sad, Serbia : Proceedings2020 / art. 9095707, 6 p https://doi.org/10.1109/DDECS50862.2020.9095707

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1