Otsing - TalTech teadusportaal

IFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

On antagonism between side-channel security and soft-error reliability in BNN inference enginesLai, Xinhui; Lange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan; Jenihhin, MaksimIFIP/IEEE 29th International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)2021 / p. 1-6 https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC53125.2021.9606981

artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid 1
- Approaches to extra-functional verification of security and reliability aspects in hardware designs = Riistvaraprojektide turva- ja töökindlusaspektide ekstrafunktsionaalse verifitseerimise lähenemisviisid

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1