Otsing - TalTech teadusportaal

Raman scattering characterization of ion-beam synthesized Mg2Si. 1, Influence of the technological conditions on the formation of the Mg2Si in(100) Si matrix (pealkiri)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Raman scattering characterization of ion-beam synthesized Mg2Si. 1, Influence of the technological conditions on the formation of the Mg2Si in(100) Si matrixAtanassov, Alexander; Zlateva, Genoveva; Baleva, Mitra; Goranova, Ekaterina; Amov, Blagoj; Angelov, Christo; Mikli, ValdekPlasma processes and polymers2006 / 2, p. 219-223 : ill https://onlinelibrary.wiley.com/doi/pdf/10.1002/ppap.200500088

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1