Otsing - TalTech teadusportaal

Comparative ellipsometric and ion beam analytical studies on ion beam crystallized silicon implanted with Zn and Pb ions (pealkiri)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Comparative ellipsometric and ion beam analytical studies on ion beam crystallized silicon implanted with Zn and Pb ionsLohner, Tivador; Angelov, Christo; Mikli, ValdekThin solid films2008 / 22, p. 8009-8012 https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609008003660

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1