Otsing - TalTech teadusportaal

Recombination behaviour at the ultra-thin polypyrrole film/silicon interface investigated by in-situ pulsed photoluminescence (pealkiri)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Recombination behaviour at the ultra-thin polypyrrole film/silicon interface investigated by in-situ pulsed photoluminescenceIntelmann, Carl Matthias; Hinrichs, Karsten; Sõritski, Vitali; Yang, Florent; Rappich, JörgJapanese journal of applied physics2008 / 2, p. 554-557 https://iopscience.iop.org/article/10.1143/JJAP.47.554

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1