Otsing - TalTech teadusportaal

2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) : proceedings (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

A two-phase metamorphic approach for testing industrial control systemsSudheerbabu, Gaadha; Ahmad, Tanwir; Sebek, Filip; Truscan, Dragos; Vain, Jüri; Porres, Ivan2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) : proceedings2022 / 4 p https://doi.org/10.1109/ETFA52439.2022.9921439

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1