Otsing - TalTech teadusportaal

Correlation between the UV-reflectance spectra and the structure of poly-Si films obtained by aluminium induced crystallization (pealkiri)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Correlation between the UV-reflectance spectra and the structure of poly-Si films obtained by aluminium induced crystallizationDimova-Malinovska, D.; Angelov, O.; Sendova-Vassileva, M.; Mikli, ValdekJournal of optoelectronics and advanced materials2009 / 9, p. 1079-1085 https://www.researchgate.net/publication/288122478_Correlation_between_the_UV-reflectance_spectra_and_the_structure_of_poly-Si_films_obtained_by_Aluminium_Induced_Crystallization

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1