Otsing - TalTech teadusportaal

2025 IEEE 23rd World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics (SAMI) (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Statistical Analysis-Based Feature Selection for Anomaly Detection in AIS DatasetVisky, Gabor; Vaarandi, Risto; Katsikas, Sokratis; Maennel, Olaf Manuel2025 IEEE 23rd World Symposium on Applied Machine Intelligence and Informatics (SAMI)2025 / p. 000159-000164 https://doi.org//10.1109/SAMI63904.2025.10883201

artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid 1
- Cybersecurity for maritime operational technology: challenges, considerations, and solutions = Merendustehnoloogia küberturvalisus: väljakutsed, kaalutlused ja lahendused

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1