Otsing - TalTech teadusportaal

Beam-line instrumentation (beam position and profile monitors, beam-intensity monitors, bunch length monitors) (võtmesõna)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

The CMS Phase-2 Fast Beam Condition Monitor prototype test with beamAuzinger, Georg; Bakhshiansohi,Hamed; Dabrowski, Anne Evelyn; Delannoy, Andres G.; Dalavi, V.; Dienemann, Nick; Dragicevic, Marko; Jenihhin, Maksim; Mihhailov, Dmitri; Shibin, KonstantinJournal of Instrumentation2025 / art. P11008 https://doi.org/10.1088/1748-0221/20/11/P11008

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1