Otsing - TalTech teadusportaal

Proceedings IEEE European Design & Test Conference, Paris, March 17-20, 1997 (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

A new approach to build a low-level malicious fault list starting from high-level description and alternative graphsBenso, A.; Prinetto, Paolo; Rebaudengo, M.; Sonza, M.; Ubar, Raimund-JohannesProceedings IEEE European Design & Test Conference, Paris, March 17-20, 19971997 / p. 560-565 https://ieeexplore.ieee.org/document/582417

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1