Otsing - TalTech teadusportaal

Proceedings of the 7th IEEE North Atlantic Test Workshop, West Greenwich RI, USA, May 28-29, 1998 (allikas)

—

—

Lisa tingimus Lihtotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Hierarchical test generation with multi-level decision diagram modelsJervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the 7th IEEE North Atlantic Test Workshop, West Greenwich RI, USA, May 28-29, 19981998 / p. 26-33 https://www.academia.edu/67811738/Hierarchical_Test_Generation_with_Multi_Level_Decision_Diagram_Models?hb-g-sw=7883185

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1