Otsing - TalTech teadusportaal

IWoTA 2004 : IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment : November 2, 2004, Rennes, France : proceedings (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

RT-level test point insertion for sequential circuitsRaik, Jaan; Govind, Vineeth; Ubar, Raimund-JohannesIWoTA 2004 : IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment : November 2, 2004, Rennes, France : proceedings2004 / p. 34-40 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/1428412

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1