Otsing - TalTech teadusportaal

Investigation of the structural, optical and electrical properties of Cu3BiS3 semiconducting thin films (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Investigation of the structural, optical and electrical properties of Cu3BiS3 semiconducting thin filmsYakushev, M. V.; Maiello, P.; Raadik, Taavi; Krustok, JüriEnergy procedia2014 / p. 166-172 : ill https://doi.org/10.1016/j.egypro.2014.12.359 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1