Otsing - TalTech teadusportaal

2016 IEEE 25th Asian Test Symposium : 21-24 November 2016, Hiroshima, Japan (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Rejuvenation of NBTI-impacted processors using evolutionary generation of assembler programsPellerey, Francesco; Jenihhin, Maksim; Squillero, Giovanni; Raik, Jaan; Sonza Reorda, Matteo; Tihhomirov, Valentin; Ubar, Raimund-Johannes2016 IEEE 25th Asian Test Symposium : 21-24 November 2016, Hiroshima, Japan2016 / p. 304-309 : ill https://doi.org/10.1109/ATS.2016.57 Conference Proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1