Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
läbivkiirguse elektronmikroskoopia (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(3/5)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
dissertatsioon
Classification and denoising of objects in TEM and CT images using deep neural networks = Objektide klassifitseerimine ja müratustamine TEM ja KT kujutistelt sügavate närvivõrkude abil
Gupta, Anindya
2018
https://digi.lib.ttu.ee/i/?9954
https://www.ester.ee/record=b5056535*est
dissertatsioon
2
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Convolutional neural networks for false positive reduction of automatically detected cilia in low magnification TEM images
Gupta, Anindya
;
Suveer, Amit
;
Lindblad, Joakim
;
Dragomir, Anca
;
Sintorn, Ida-Maria
;
Sladoje, Nataša
Image Analysis, 20th Scandinavian Conference, SCIA 2017, Tromsø, Norway, June 12–14, 2017 : proceedings, Part I
2017
/
p. 407-418 : ill
https://doi.org/10.1007/978-3-319-59126-1_34
Conference proceedings at Scopus
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
3
artikkel ajakirjas
Influence of the SPD processing features on the nanostructure and properties of a pure niobium
Kommel, Lembit
;
Mikli, Valdek
;
Traksmaa, Rainer
;
Saarna, Mart
;
Pokatilov, Andrei
;
Pikker, Siim
;
Kommel, Igor
Materials science forum
Nanomaterials by Severe Plastic Deformation: NanoSPD5 : Selected, peer reviewed papers from the 5th International Conference on Nanomaterials by Severe Plastic Deformation, NanoSPD5, held in Nanjing, China, on March 21-25, 2011
2011
/
p. 785-790 : ill
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.667-669.785
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
märksõna
3
1.
läbivkiirguse elektronmikroskoopia
2.
elektronmikroskoopia
3.
skaneeriv elektronmikroskoopia
TTÜ struktuuriüksus
1
1.
elektronmikroskoopia labor
TTÜ märksõna
1
1.
krüo-elektronmikroskoopia
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT