Otsing - TalTech teadusportaal

Key factors in coping with large-scale security vulnerabilities in the eID field (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Key factors in coping with large-scale security vulnerabilities in the eID fieldLips, Silvia; Pappel, Ingrid; Tsap, Valentyna; Draheim, DirkElectronic Government and the Information Systems Perspective :7th International Conference, EGOVIS 2018, Regensburg, Germany, September 3–5, 2018 : proceedings2018 / p. 60-70 https://doi.org/10.1007/978-3-319-98349-3_5 Conference Proceedings at Scopus Article at Scopus Conference Proceedings at WOS Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG
Seotud publikatsioonid 2
- eID public acceptance : success factors, citizen perception, and impact of electronic identity = eID avalik aktsepteerimine : edutegurid, kodanike pertseptsioon ja elektroonilise identiteedi mõju
- A multifaceted assessment framework for electronic identity schemes = Elektrooniliste autentimisskeemide mitmetahuline hindamise raamistik

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1