Otsing - TalTech teadusportaal

2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2019) (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Challenges of reliability assessment and enhancement in autonomous systemsJenihhin, Maksim; Sonza Reorda, Matteo; Balakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan2019 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2019)2019 / 6 p https://doi.org/10.1109/DFT.2019.8875379

artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid 1
- A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1