Otsing - TalTech teadusportaal

Piecewise linearly approximated sine wave for dynamic quality tests of A/D converters (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Piecewise linearly approximated sine wave for dynamic quality tests of A/D convertersLand, RaulProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering2000 / 2, p. 113-119 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b1004041*est

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1