Otsing - TalTech teadusportaal

Metrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, Warszawa, 21-23 czerwca 1989 r. : referaty i komunikaty (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Normale zur Eichung von SchichtdickenmeßgerätenLaaneots, Rein; Velling, AntsMetrologia wielkości mechanicznych i kontrola jakości produkcji : sympozjum metrologia '89, Warszawa, 21-23 czerwca 1989 r. : referaty i komunikaty1989 / S. 267-274 https://www.ester.ee/record=b4575029*est

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1