Otsing - TalTech teadusportaal

Simple relationship between the breakdown voltage, concentration and junction depth pn diffused junctions (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Simple relationship between the breakdown voltage, concentration and junction depth pn diffused junctionsRang, ToomasPhysica status solidi. A, Applied research1982 / p. K117-K119 : tab., joon https://www.ester.ee/record=b1562026*est

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1