Otsing - TalTech teadusportaal

Proceedings of the Twenty Second International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) : Santa Clara, USA, 7-9 April 2021 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Gate-level graph representation learning : a step towards the improved stuck-at faults analysisBalakrishnan, Aneesh; Alexandrescu, Dan; Jenihhin, Maksim; Lange, Thomas; Glorieux, MaximilienProceedings of the Twenty Second International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) : Santa Clara, USA, 7-9 April 20212021 / p. 24-30 https://doi.org/10.1109/ISQED51717.2021.9424256

artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid 1
- A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1