Otsing - TalTech teadusportaal

Shallow defect density determination in CuIn3Se5 thin film photoabsorber by impedance spectroscopy (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Shallow defect density determination in CuIn3Se5 thin film photoabsorber by impedance spectroscopyLaes, Kristjan; Bereznev, Sergei; Tverjanovich, Andrey; Borisov, Evgeny N.; Varema, Tiit; Volobujeva, Olga; Öpik, AndresThin solid films2009 / p. 2286-2290 : ill

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1