Otsing - TalTech teadusportaal

Phase composition of selenized Cu2ZnSnSe4 thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopy (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Phase composition of selenized Cu2ZnSnSe4 thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopyGanchev, Maxim; Iljina, Julia; Kaupmees, Liina; Raadik, Taavi; Volobujeva, Olga; Mere, Arvo; Altosaar, Mare; Raudoja, Jaan; Mellikov, EnnThin solid films2011 / p. 7394-7398 : ill

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1