Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Shibin, Konstantin (TTÜ autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
21
Vaata veel..
(3/49)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(21)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Asynchronous fault detection in IEEE P1687 instrument network
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
IEEE 23rd North Atlantic Test Workshop : 14-16 May 2014, Binghampton, New York : proceedings
2014
/
p. 73-78 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
At-speed testing of inter-die connections of 3D-SICs in the presence of shore logic
Shibin, Konstantin
;
Chickermane, Vivek
;
Keller, Brion
;
Papameletis, Christos
;
Marinissen, Erik Jan
2015 Asian Test Symposium : ATS 2015 : 22-25 November 2015, Mumbai, Maharashtra, India : proceedings
2015
/
p. 79-84 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2015.21
artikkel kogumikus
3
raamat
CMS drift tubes sector collector relocation phase 1 upgrade [Electronic resource]
Bedoya, C. F.
;
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
2015
http://cms.cern.ch/iCMS/jsp/openfile.jsp?type=DN&year=2015&files=DN2015_011.pdf
raamat
4
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
Designing reliable cyber-physical systems
Aleksandrowicz, Gadi
;
Arbel, Eli
;
Bloem, Roderick
;
Devadze, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Shibin, Konstantin
Languages, design methods, and tools for electronic system design : selected contributions from FDL 2016
2018
/
p. 15-38 : ill
https://doi.org/10.1007/978-3-319-62920-9_2
Conference Proceedings at Scopus
Article at Scopus
artikkel kogumikus EST
/
artikkel kogumikus ENG
5
artikkel kogumikus
Designing reliable cyber-physical systems : overview associated to the special session at FDL'16
Aleksandrowicz, Gadi
;
Arbel, Eli
;
Bloem, Roderick
;
Devadze, Sergei
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Shibin, Konstantin
The 2016 Forum on Specification & Design Languages : proceedings : Bremen, Germany, September 14-16, 2016
2016
/
[8] p. : ill
https://doi.org/10.1109/FDL.2016.7880382
artikkel kogumikus
6
artikkel ajakirjas
Effective scalable IEEE 1687 instrumentation network for fault management
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
IEEE design & test
2013
/
p. 26-35 : ill
artikkel ajakirjas
7
artikkel kogumikus
Fault management instrumentation network based on IEEE P1687 IJTAG
Shibin, Konstantin
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
European Test Symposium (ETS), 2013, Avignon, France
2013
artikkel kogumikus
8
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Health management for self-aware SoCs based on IEEE 1687 infrastructure
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Grabmann, Martin
;
Pricken, Robin
IEEE Design & Test
2017
/
p. 27-35 : ill
https://doi.org/10.1109/MDAT.2017.2750902
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
9
artikkel kogumikus
IEEE P1687 IJTAG demonstrator on FPGA
Shibin, Konstantin
;
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
DATE 2012 University Booth : Design Automation and Test in Europe : Dresden, Germany, March 12-16, 2012
2012
/
1 p. : ill
artikkel kogumikus
10
artikkel kogumikus
Integrated modelling, fault management, verification and reliable design environment for cyber-physical systems
Raik, Jaan
;
Rauwerda, Gerard
;
Zhao, Yong
;
Shibin, Konstantin
MEDIAN Finale : Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : November 10-11, 2015, Tallinn, Estonia
2015
/
p. 74
artikkel kogumikus
11
artikkel kogumikus
On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Tsertov, Anton
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313562
artikkel kogumikus
12
artikkel kogumikus
On-line fault classification and handling in IEEE1687 based fault management system for complex SoCs
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 69-74 : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2016.7483342
artikkel kogumikus
13
artikkel ajakirjas
Open-source JTAG simulator bundle for labs
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Rosin, Vjatšeslav
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
International journal of electronics and telecommunications
2012
/
p. 233-239 : ill
https://journals.pan.pl/Content/87192/PDF/32.pdf
artikkel ajakirjas
14
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Optimization of boundary scan tests using FPGA-based efficient scan architectures
Aleksejev, Igor
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2016
/
p. 245-255 : ill
https://doi.org/10.1007/s10836-016-5588-y
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
15
artikkel kogumikus
Reliable health monitoring and fault management infrastructure based on embedded instrumentation and IEEE 1687
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
IEEE AUTOTESTCON 2016 : Anaheim, California, USA, September 12-15, 2016 : proceedings
2016
/
p. 240-249 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2016.7589605
artikkel kogumikus
16
artikkel kogumikus
Synchronization, calibration and triggering of IEEE 1687 embedded instruments
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Shibin, Konstantin
The Seventeenth Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'16) : November 24-25, 2016, Aki Grand Hotel, Hiroshima, Japan
2016
/
[6] p
artikkel kogumikus
17
artikkel kogumikus
System-wide fault management based on IEEE P1687 IJTAG
Shibin, Konstantin
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kuuenda aastakonverentsi artiklite kogumik : 3.-5. oktoobril 2012, Laulasmaa
2012
/
p. 81-84 : ill
artikkel kogumikus
18
artikkel kogumikus
Trainer 1149 : a boundary scan simulation bundle with hardware support for labs
Shibin, Konstantin
;
Jutman, Artur
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
2011
/
p. 135-138 : ill
artikkel kogumikus
19
artikkel kogumikus
Understanding boundary scan test with Trainer 1149
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Shibin, Konstantin
;
Rosin, Vjatšeslav
;
Ubar, Raimund-Johannes
22nd EAEEIE annual conference : June, 13-15, 2011, Maribor, Slovenija : conference book
2011
/
p. 21-22
https://ieeexplore.ieee.org/document/6165727
artikkel kogumikus
20
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Understanding fault-tolerance vulnerabilities in advanced SoC FPGAs for critical applications
Cherezova, Natalia
;
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
Microelectronics reliability
2023
/
art. 115010, 10 p. : ill
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115010
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
21
artikkel kogumikus
Virtual reconfigurable scan-chains on FPGAs for optimized board test
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Shibin, Konstantin
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
2015
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102411
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 21, kuvan
1 - 21
autor
26
1.
Shibin, Konstantin
2.
Tang, Shibin
3.
Andronnikov, Konstantin
4.
Bardõš, Konstantin
5.
Dolski, Konstantin
6.
Fokin, Konstantin
7.
Gongalsky, Konstantin B.
8.
Grimm, Konstantin
9.
Grišutin, Konstantin
10.
Jefimov, Konstantin
11.
Jevstropjev, Konstantin
12.
Kaal, Konstantin
13.
Kangur, Konstantin
14.
Kislitsõn, Konstantin
15.
Konik, Konstantin
16.
Kroon, Arnold-Konstantin
17.
Larionov, Konstantin
18.
Mihhailov, Konstantin
19.
Ollik, Konstantin
20.
Päts, Konstantin
21.
Roždestvenski, Konstantin
22.
Tarletski, Konstantin
23.
Tipp, Konstantin
24.
Tippo, Konstantin
25.
Tšertes, Konstantin
26.
Vorobev, Konstantin
CV
13
1.
Shibin, Konstantin 1988
2.
Bilozor, Konstantin 1989
3.
Grimm, Konstantin 1891-1953
4.
Kroon, Arnold Konstantin
5.
Lukjanov, Konstantin 1915-?
6.
Mickfeldt, Konstantin 1886-?
7.
Mihailov, Konstantin
8.
Mihhailov, Konstantin 1928-1989
9.
Ollik, Konstantin 1917-1989
10.
Tam(m)-Stamm, Konstantin
11.
Tamm-Stamm, Konstantin 1868-
12.
Tippo, Konstantin Aleksander 1917-2013
13.
Veelmann, Konstantin
tema kohta
10
1.
Shibin, Konstantin
2.
Grimm, Konstantin, 1891-1953
3.
Kangur, Konstantin
4.
Lindquist, Konstantin
5.
Manuilov, Konstantin
6.
Ollik, Konstantin, 1917-1989
7.
Päts, Konstantin, 1874-1956
8.
Tam-Stamm, Konstantin, 1868-?
9.
Tippo, Konstantin, 1917-2013
10.
Tsiolkovski, Konstantin
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT