Otsing - TalTech teadusportaal

37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerancein VLSI and Nanotechnology Systems, Harwell, Oxfordshire, Didcot, UK, October 8th - 10th, 2024 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Zero-memory-overhead clipping-based fault tolerance for LSTM deep neural networksParchekani, Bahram; Nazari, Samira; Ahmadilivani, Mohammad Hasan; Azarpeyvand, Ali; Raik, Jaan; Ghasempouri, Tara; Daneshtalab, Masoud37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerancein VLSI and Nanotechnology Systems, Harwell, Oxfordshire, Didcot, UK, October 8th - 10th, 20242024 / 4 p. : ill https://doi.org/10.1109/DFT63277.2024.10753533 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG
Seotud publikatsioonid 1
- Assessment and Enhancement of Hardware Reliability for Deep Neural Networks = Riistvara töökindluse hindamine ja täiustamine süvanärvivõrkude jaoks

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1