Otsing - TalTech teadusportaal

Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraintsViilukas, Taavi; Karputkin, Anton; Raik, Jaan; Jenihhin, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Fujiwara, HideoJournal of electronic testing : theory and applications (JETTA)2012 / p. 511-521 : ill https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-012-5312-5

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1