Otsing - TalTech teadusportaal

Proceedings of the Twenty Fifth International Symposium on Quality ElectronicDesign : ISQED 2024 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG

Exploration of Activation Fault Reliability in Quantized Systolic Array-Based DNN AcceleratorsTaheri, Mahdi; Cherezova, Natalia; Ansari, Mohammad Saeed; Jenihhin, Maksim; Mahani, Ali; Daneshtalab, Masoud; Raik, JaanProceedings of the Twenty Fifth International Symposium on Quality ElectronicDesign : ISQED 20242024 / 8 p. : ill https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=10528372 https://doi.org/10.1109/ISQED60706.2024.10528372 Conference proceedings at Scopus Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus EST / artikkel kogumikus ENG
Seotud publikatsioonid 1
- Methods for reliability assessment and enhancement of deep neural networks hardware accelerators = Süvanärvivõrkude riistvara kiirendite töökindluse hindamine ja täiustamine

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1