Otsing - TalTech teadusportaal

2024 IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS) (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

IJTAG-compatible symptom-based SEU monitors for FPGA DNN acceleratorsCherezova, Natalia; Jenihhin, Maksim; Jutman, Artur2024 IEEE International Conference on Design, Test and Technology of Integrated Systems (DTTIS)2024 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/DTTIS62212.2024.10780417 Article at Scopus Article at WOS

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1