Otsing - TalTech teadusportaal

Investigation of the silicon/polypyrrole interface by pulsed photoluminescence and IR spectroscopic ellipsometry during electrochemical deposition (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Investigation of the silicon/polypyrrole interface by pulsed photoluminescence and IR spectroscopic ellipsometry during electrochemical depositionZhang, Xin; Sõritski, Vitali; Sun, Guoguang; Hinrichs, Karsten; Rappich, JörgPolymers for advanced technologies2013 / p. 171

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1