Otsing - TalTech teadusportaal

Non-linear structure identification of a fed-batch bakers' yeast process - a simulation study of two techniques (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Non-linear structure identification of a fed-batch bakers' yeast process - a simulation study of two techniquesKeulers, M.; Sepp, K.; Breur, A.; Reyman, G.Automation, simulation & measurement. Section A, Automation. Section M, Measurement : 3rd biennal conference : Tallinn, Estonia, October 7-11, 1991 = Automatiseerimine, modelleerimine ja mõõtmine : 3. rahvusvaheline konverents / Tallinna Tehnikaülikool1992 / p. 82-87: ill https://www.ester.ee/record=b1064034*est

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1