Otsing - TalTech teadusportaal

The 21st International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS : July 16-20, 2001, Gissen (Germany) (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

High temperature electrical conductivity of undoped ZnSLott, Kalju; Türn, Leo; Volobujeva, Olga; Leskelä, M.The 21st International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS : July 16-20, 2001, Gissen (Germany)2001 / p. 310

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1