Otsing - TalTech teadusportaal

Effective algorithms for dynamic quality tests of A/D converters using step-wise approximated multi-cycle sine wave (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Effective algorithms for dynamic quality tests of A/D converters using step-wise approximated multi-cycle sine waveLand, RaulProceedings of the 6th European Workshop on ACD Modelling and Testing : 13-14 Sept., 2001 : Lisbon, Portugal2001 / p. 96-100 https://www.imeko.org/index.php/proceedings/5494-effective-algorithms-for-dynamic-quality-tests-of-a-d-converters-using-step-wise-approximated-multi-cycle-sine-wave

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1