Otsing - TalTech teadusportaal

DOT: new deterministic defect-oriented ATPG tool (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

DOT: new deterministic defect-oriented ATPG toolRaik, Jaan; Ubar, Raimund-Johannes; Sudbrock, Joachim; Kuzmicz, Wieslaw; Pleskacz, Witold A.European Test Symposium : ETS 2005 : 22-25 May 2005, Tallinn, Estonia : proceedings2005 / p. 96-101 : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1