Otsing - TalTech teadusportaal

Design-for-testability for application of external test patterns in a NoC (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Design-for-testability for application of external test patterns in a NoCGovind, Vineeth; Raik, Jaan2nd Workshop on Diagnostic Services in Network-on-Chips - Test, Debug, and On-Line Monitoring, in conjunction with Design Automation Conference (DAC)2008 / [4] p

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1