Otsing - TalTech teadusportaal

Getterring and defect engineering in semiconductor technology XIII : CADEST 2009 : proceedings of the XIIIth International Autumn Meeting, Döllnsee-Schorfheide, north of Berlin, Germany, September 26 - October 02, 2009 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Interaction of point defects with impurities in the Si-SiO2 system and its influence on the properties of the interfaceKropman, Daniel; Mellikov, Enn; Lott, Kalju; Kärner, T.; Heinmaa, I.Getterring and defect engineering in semiconductor technology XIII : CADEST 2009 : proceedings of the XIIIth International Autumn Meeting, Döllnsee-Schorfheide, north of Berlin, Germany, September 26 - October 02, 20092010 / p. 145-148 : ill https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0040609009014564

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1