Otsing - TalTech teadusportaal

4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era : DTIS'09 : Cairo, Egypt, April 6-9, 2009 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Parallel exact critical path tracing fault simulation with reduced memory requirementsDevadze, Sergei; Ubar, Raimund-Johannes; Raik, Jaan; Jutman, Artur4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era : DTIS'09 : Cairo, Egypt, April 6-9, 20092009 / p. 155-160 : ill https://ieeexplore.ieee.org/document/4938046

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1