Otsing - TalTech teadusportaal

15 International Congress of Metrology : Paris-France, 03.-06. October 2011 (allikas)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel kogumikus

Surface roughness measurement unsertainty estimation using random functionKulderknup, Edi; Riim, Jürgen; Laaneots, Rein15 International Congress of Metrology : Paris-France, 03.-06. October 20112011 / [4] p.: ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1