Toggle navigation
Otsi
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
DSP (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
Tühista
teaviku laadid
raamat
artikkel ajakirjas
artikkel ajalehes
artikkel kogumikus
dissertatsioon
Open Access
Teaduspublikatsioon
aasta
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(0/0)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
A DSP-based impedance measurement device
Abdullayev, Anar
;
Märtens, Olev
;
Rist, Marek
;
Metshein, Margus
;
Min, Mart
;
Annus, Paul
2022 18th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC)
2022
/
5 l.
https://doi.org/10.1109/BEC56180.2022.9935588
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Impedance measurement solution based on the high time resolution DSP
Märtens, Olev
;
Land, Raul
;
Min, Mart
;
Annus, Paul
;
Rist, Marek
2020 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC 2020), May 25-29, 2020, Dubrovnik, Croatia : proceedings
2020
https://doi.org/10.1109/I2MTC43012.2020.9128843
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Multisine signal generation method for a bioimpedance measurement device
Gorev, Maksim
;
Pesonen, Vadim
;
Ellervee, Peeter
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
/
p. 111-114 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3