DSP-based electrical impedance tomography device: implementation and experiments
vastutusandmed
Anar Abdullayev, Marek Rist, Margus Metshein, Olev Martens
allikas
2025 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
6 p
konverentsi nimetus, aeg
IEEE I2MTC – International Instrumentation and Measurement Technology Conference, 19-22 May 2025
konverentsi toimumispaik
Chemnitz, Germany
ISSN
2642-2069
ISBN
979-8-3315-0501-1
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
TTÜ struktuuriüksus
keel
Inglise
võtmesõna
klassifikaator
Abdullayev, A., Rist, M., Metshein, M., Märtens, O. DSP-based electrical impedance tomography device: implementation and experiments // 2025 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC). : IEEE, 2025. 6 p.