Experimental evaluation of GaN gate injection transistors
autor
Barlik, Roman
vastutusandmed
Jacek Rabkowski, Roman Barlik
ajakirja aastakäik number kuu
Nr. 3
ilmumisaasta
leheküljed
p. 9-12 : ill
ISSN
0033-2097
märkused
Bibliogr.: 17 ref
Kokkuvõte poola keeles
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
TTÜ struktuuriüksus
Rabkowski, J., Barlik, R. Experimental evaluation of GaN gate injection transistors // Przeglad elektrotechniczny = Electrical review (2015) Nr. 3, p. 9-12 : ill.