täiskirje prindi

Mission profile resolution impacts on the thermal stress and reliability of power devices in PV inverters

autor
vastutusandmed
A. Sangwongwanich, D. Zhou, E. Liivik, F. Blaabjerg
allikas
kirjastus/väljaandja
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 88–90
ilmumisaasta
leheküljed
p. 1003-1007
leitav
ISSN
0026-2714
märkused
Bibliogr.: 18 ref
keel
inglise
Sangwongwanich, A., Zhou, D., Liivik, E., Blaabjerg, F. Mission profile resolution impacts on the thermal stress and reliability of power devices in PV inverters // Microelectronics reliability (2018) vol. 88–90, p. 1003-1007. https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.06.094