TalTech publikatsioonid
pealdis Kropman, D., Mellikov, E., Kärner, T., Ugaste, Ü., Laas, T., Heinmaa, I., Medvid, A.*
maakood xx
autor Kropman, Daniel
Mellikov, Enn
Kärner, T.
Ugaste, Ülo
Laas, Tõnu
Heinmaa, I.
Medvid, A.
pealkiri Impurity interaction with point defects in the Si-SiO2 structures and its influence on the interface properties
vastutusandmed D.Kropman, E.Mellikov, T.Kärner, Ü.Ugaste, T.Laas, I.Heinmaa, A.Medvid
allikas Materials science and engineering B
ajakirja aastakäik number kuu 134
ilmumisaasta 2006
leheküljed p. 222-226 : ill
ISSN 0921-5107
märkused Bibliogr.: 8 ref