full record print

Измерение коэффициентов ударной ионизации в рп-переходах при очень низкой интенсивности размножения

author
statement of authorship
Э.Э. Велмре, М.О. Пикков
source
location of publication
Таллин
publisher
year of publication
pages
с. 3-19 : ил
series
series variant title
TTÜ Toimetised ; 696
Труды ТТУ ; 696
notes
Библиогр. : 15 назв
Kokkuvõte: Põrkeionisatsioonitegurite mõõtmine pn-siirdes väga nõrga paljunemisintensiivsuse korral
Abstract: Ionization coefficient measurements in a PN-junction at very low multiplication rates
language
vene
Велмре, Э.Э., Пикков, М.О. Измерение коэффициентов ударной ионизации в рп-переходах при очень низкой интенсивности размножения // Машинное проектирование электронных устройств и систем. Таллин : Таллинский технический университет, 1989. с. 3-19 : ил. (Tallinna Tehnikaülikooli toimetised = Труды Таллинского технического университета = Transactions of Tallinn Technical University ; 696, Электротехника и автоматика ; 37).